IC測試儀

簡要描述：IC測試儀

訪問次數(shù)：2823

所屬分類：綜合測試儀

更新時間：2020-06-24

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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詳情介紹

產(chǎn)品說明:存儲器IC測試儀。對DRAM、SIMM、SRAM、VRAM、及PCMCIA卡提供即時的功能分析測試。提供多種測試模式;zui高容量64MB.

本系統(tǒng)的主要特點

　存儲器IC測試儀。對DRAM、SIMM、SRAM、VRAM、及PCMCIA卡提供即時的功能分析測試。提供多種測試模式。
zui高容量64MB，zui寬144位，且成本低廉全可編程。

主要功能：

IST6500型存儲器功能參數(shù)測試儀
在2NS基頻下，提供四種方法自動測試存取時間在2NS到160NS的各種器件（DRAM定時參數(shù)可編程提供1NS的基頻）從而實現(xiàn)實時測試。
兼?zhèn)溆懈咚匐p通道閾值比較器的可編程動態(tài)加載，允許用戶編程DUT輸出口負(fù)載，以達(dá)到一個寬的工作范圍。這一特性在SIMN器件測試鐘尤其重要，因為后者須經(jīng)常驅(qū)動，大容量小電阻的負(fù)載。

　　6500通過RS-232與PC機接口，器機械手接口具有“料箱排序”功能，可將器件按照選定的工作參數(shù)進行排序，這在工程元件特性或GO/NO GO測試中很具有典型意義。 IST6500易于編程，且存儲有100個不同的用戶自定義測試路徑，提供了器件的各種工作參數(shù)包括存取時間，工作電流，備用電流，數(shù)據(jù)保持電流，輸出負(fù)載，DUT電流源，定時參數(shù)，測試模式及邏輯閾值的自動引導(dǎo)測試或GO/NO GO測試，同時引導(dǎo)GO/NO GO 測試的參數(shù)的預(yù)置極限也可存儲在程序里。

　　6500具備一系列完善的存儲測試模式，并向用戶提供短/長兩種測試模式，它能在zui短的時間內(nèi)完成絕大多數(shù)RAM指標(biāo)的檢測。數(shù)據(jù)測試模式包括：
全1，全0，方格噪聲模式，步1，步0，列干擾，滑動斜行，移動倒置，這些模式能檢測存儲器芯片上及其他地址上的短路，開路或單值錯誤，也能檢測芯片干擾，信號轉(zhuǎn)換放大器干擾及噪聲靈敏度錯誤。

主要性能指標(biāo)：

　　*可測試DRAM，SRAM，SIMN，VRAM器件（容量可高達(dá)64MB）的同步電流，輸出驅(qū)動，閾電壓，電源邊界參數(shù)。
*DRAM定時參數(shù)測試可以編程到1NS或“自動定時尋找”。
*提供刷新測試，基本，快速檢測，密集或用戶定義的測試模式。
*錯誤停止/錯誤步進，顯示錯誤地址及錯誤位。
*測試回路內(nèi)部自動轉(zhuǎn)換不需要位每個測試器件裝配分立模塊。
*通用主機及插入式家用模塊設(shè)計，可根據(jù)內(nèi)存器件的變化隨時進行擴充。
*支持DIP，ZIP，SOJ，SIP，PLCC，TSOP多種封裝。
*后備電池支持的RAM存儲了100個用戶程序，用以各器件的特性的特性測試，因而提供了“一次性操作”。
*配有232接口可獨立操作或與PC聯(lián)機操作，也可連接機械手對器件分類篩選。
*自動參數(shù)的缺省值允許瞬時“單鍵”測試。
*測速高達(dá)0.9SEC/MB/模式的DMA高速硬件測試電路.

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